Рекомендуемая категория для самостоятельной подготовки:
Реферат*
Код |
575791 |
Дата создания |
2015 |
Страниц |
10
|
Мы сможем обработать ваш заказ (!) 5 декабря в 12:00 [мск] Файлы будут доступны для скачивания только после обработки заказа.
|
Содержание
Введение 3
1 Измерение малых электрических величин 4
2 Измерение малых механических величин 6
Заключение 10
Список использованных источников 11
Введение
В микроэлектронике и в нанотехнологиях необходимы самые разнообразные приборы для измерения постоянных и переменных токов и напряжений, параметров пассивных и активных компонентов, обеспечения электропитания устройств на них и т. д. и т. п.
Для микроэлектроники и нанотехнологий характерен как относительно медленный дрейф результатов измерений в ходе тестирования, так и быстрый дрейф, вызванный шумами. Это вынуждает усложнять приборы для тестирования устройств и вводить в них новые методы измерения, например импульсные, с автоматической коррекцией нуля и т. д [1].
Целью данного реферата является рассмотрение величин, размер которых минимальных. При этом реферат состоит из двух глав, в первой из которых анализу подвергаются электрические параметры, а во второй рассматриваются сверхмалые механические величины.
Фрагмент работы для ознакомления
В данной работе были рассмотрены способы измерения сверхмалых электрических величин с помощью современных мультиметров. Для измерения напряжений и токов, а также сопротивлений и ряда других параметров (частоты, температуры, иногда емкости и индуктивности) в настоящее время имеется великое множество цифровых мультиметров (DMM - Digital Multi Meters) - приборов для измерения нескольких физических (чаще всего электрических) величин. Для таких приборов созданы специальные интегральные микросхемы, позволившие создавать дешевые и миниатюрные мультиметры.
Во второй главе были рассмотрены современные способы измерения сверхмалых расстояний и масс. Измерение сверхмалых расстояний является важной задачей особенно в области интенсивно развивающихся нанотехнологий. Поиск оптических интерферометрических методов, альтернативных лазерным интерферометрам, применение которых для измерения нано расстояний имеет определенные трудности, привел в конце прошлого столетия к развитию оптической когерентной томографии. Измерение сверхмалых масс является важной задачей при исследовании нано- и микромасштабных объектов. В частности, такие объекты могут служить чувствительными элементами для измерения различных физических величин: температуры, давления и других. Так по изменению массы нано- и микрообъектов можно судить о химических или биологических процессах протекающих на их поверхности.
Список литературы
1. Дьяконов В. П. Intel. Новейшие информационные технологии. Достижения и люди. - М.: СОЛОН-Пресс, 2004.
2. A Guide to Electrical Measurements for Nanoscience Applications, 1st Edition (c), Keithley. 2007.
3. Зи С. Физика полупроводниковых приборов: в 2 т. - М.: Мир, 1984.
4. Схемотехника устройств на мощных полевых транзисторах: справочник /В. В. Бачурин, В. Я. Ваксембург, В. П. Дьяконов, А. А. Максимчук, В. Ю. Смердов и А. М. Ремнев; под ред. В. П. Дьяконова. - М.: Радио и связь, 1994.
5. Дьяконов В. П., Максимчук А. А., Смердов В. Ю., Ремнев А. М. Энциклопедия устройств на полевых транзисторах / под ред. В. П. Дьяконова. - М.:СОЛОН-Р, 2002.
Пожалуйста, внимательно изучайте содержание и фрагменты работы. Деньги за приобретённые готовые работы по причине несоответствия данной работы вашим требованиям или её уникальности не возвращаются.
* Категория работы носит оценочный характер в соответствии с качественными и количественными параметрами предоставляемого материала. Данный материал ни целиком, ни любая из его частей не является готовым научным трудом, выпускной квалификационной работой, научным докладом или иной работой, предусмотренной государственной системой научной аттестации или необходимой для прохождения промежуточной или итоговой аттестации. Данный материал представляет собой субъективный результат обработки, структурирования и форматирования собранной его автором информации и предназначен, прежде всего, для использования в качестве источника для самостоятельной подготовки работы указанной тематики.
bmt: 0.00461