Зондовая микроскопия

Оглавление
ВВЕДЕНИЕ 3
1 Методы зондовой микроскопии 5
1.1 Основные принципы сканирующей атомно-силовой микроскопии 5
1.2 Основы сканирующей туннельной микроскопии 6
1.3 Основы наноиндентирования 8
1.4 Формирование и анализ СЗМ-изображений 9
2 Приборы зондовой микроскопии 12
2.1 Общие сведения 12
2.2 Зондовый микроскоп «ФемтоСкан» 13
2.3 Сканирующий наноиндентор «TI 750 Ubi» 16
ЗАКЛЮЧЕНИЕ 19
СПИСОК ИСПОЛЬЗУЕМОЙ ЛИТЕРАТУРЫ 20

ВВЕДЕНИЕ
В настоящее время бурно развивается научно-техническое направление - нанотехнология, охватывающее широкий круг, как фундаментальных, так и прикладных исследований. Это принципиально новая технология, способная решать проблемы в таких разных областях, как связь, биотехнология, микроэлектроника и энергетика.
За прошедшие годы применения зондовой микроскопии позволило достичь уникальных научных результатов в различных областях физики, химии и биологии.
Если первые сканирующие зондовые микроскопы были приборами-индикаторами для качественных исследований, то современный сканирующий зондовый микроскоп – это прибор, интегрирующий в себе до 50 различных методик исследования.
Исторически первым был изобретен сканирующий туннельный микроскоп. Однако на сегодняшний день более широкое применение для исследования поверхности твердых тел получили изобретенные позднее методы, в основе которых лежат принципы сканирующей атомно-силовой микроскопии (АСМ). Разновидностей методов АСМ насчитывается более десятка, и каждый по-своему полезен и уникален. Большое разнообразие методик АСМ обусловлено необходимостью в получении большого числа физических параметров, с помощью которых можно максимально подробно охарактеризовать исследуемый объект. Тем не менее основой являются методы контактных, полуконтактных и бесконтактных измерений. Далее в работе будут рассмотрены основные принципы данных методик измерения.
Актуальность темы реферата заключается в том, что зондовая микроскопия является одним из базовых инструментов нанотехнологии. Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) - один из мощных современных методов исследования морфологии и локальных свойств поверхности твердого тела с высоким пространственным разрешением.
Цель работы – более полное изучение зондовой микроскопии.
Для достижения поставленной цели необходимо решить несколько задач: рассмотреть основные принципы сканирующей атомно-силовой микроскопии, основы сканирующей туннельной микроскопии, основы наноиндентирования, формирование и анализ СЗМ-изображений, общие сведения о приборах зондовой микроскопии, зондовый микроскоп «ФемтоСкан», а также сканирующий наноиндентор «TI 750 Ubi» и другие моменты.
Структура реферата включает в себя несколько частей: введение, основную часть (две главы), заключение и библиографический список, состоящий из пяти источников литературы.

Структуру работы смотрите в содержании.
Ссылки на литературу есть.
Оформление по ГОСТу.