Вход

Электронный микроскоп

Рекомендуемая категория для самостоятельной подготовки:
Реферат*
Код 191391
Дата создания 2016
Страниц 18
Источников 4
Мы сможем обработать ваш заказ (!) 6 мая в 12:00 [мск]
Файлы будут доступны для скачивания только после обработки заказа.
1 230руб.
КУПИТЬ

Содержание

Введение 3
1 Устройство и принцип действия электронного микроскопа 4
2 Типы электронных микроскопов 6
3 Применение электронной микроскопии 8
3.1 Биологические и медицинские исследования 8
3.2 Минералогия и химия кристаллов 11
3.3 Исследование металлов и сплавов 14
3.4 Физическая и органическая химия 15
Заключение 17
Использованная литература 18

Фрагмент работы для ознакомления

Изменение контраста на изображении дают возможность исследовать кристаллическую решетку и ее несовершенства в масштабе размеров атомов. Информация, которую при этом получают, дополняет ту, которую дает рентгенографический анализ объемных образцов, так как электронная микроскопия позволяет непосредственно наблюдать дефекты упаковки, дислокации и границы зерен во всех деталях. Все эти методы дают ученым важную информацию о структуре большого количества материалов и существенно проясняют многие вопросы физики кристаллов и их свойств. Например, анализ электронных изображений кристаллической решетки тонких малоразмерных квазикристаллов в сочетании с анализом их электронограмм позволил в 1985г. открыть материалы с симметрией 5-го порядка.3.3 Исследование металлов и сплавовРастровая электронная микроскопия помогает объяснить, как произошло разрушение в исследуемом материале изделия, как металлическая поверхность изделия реагирует на термопластическое воздействие внешней среды.Методы просвечивающей электронной микроскопиипомогают объяснить,почему это происходит, как этому способствует структурно-фазовое состояние материала.Трансмиссионная электронная микроскопиядает возможность исследовать внутреннюю структуру изучаемых металлов и сплавов, в частностивыявлять:тип и параметры кристаллической решетки матрицы и фаз;ориентационные соотношения между матрицей ифазой;кристаллографическую ориентацию отдельных зерен исубзерен;углы разориентировки между зернами исубзернами;плоскости залегания дефектов кристаллического строения;исследоватьраспределение и плотность дислокаций в материалах изделий;исследовать строение границ зерен;исследовать влияние технологических факторов (ковки, прокатки, сварки,шлифовки и т.д.)на структуру конструкционных материалов;исследовать процессы фазовых и структурных превращений в сплавах.Исследователи металлов и сплавов в своей практической деятельности постоянно сталкиваются со всеми перечисленными вышезадачами. Важнейшей из них является задача выбора материала конструкций с необходимыми механическими свойствами, такими чтобы конечная конструкция смогла стабильно работать в условиях дальнейшей ее эксплуатации. Эту задачу можно решить только совместными усилиями кристаллографов, металловедов и технологов. Успех ее решения зависит от таких факторов как:правильный выбор металла основы с нужным типом кристаллической решетки (ГЦК,ОЦК, ГПУ);легирование и термопластическая обработка металла с целью формирования в нем заданной;разработка технологических процессов изготовления конструкции.Задача по созданию сплава, обладающего заданными механическими свойствами, подразумевает создание материала с требуемой внутренней структурой, поскольку практически все механические свойства являются структурно-чувствительными. Все без исключения изменения свойств в глубинных или четырех поверхностных слоях металлов и сплавов - это отклик на изменение их внутреннего строения на макро-, микро- и субмикроскопическом уровнях.Одним из наиболее эффективных приложений мощных современных и быстро развивающихся методов растровой и просвечивающей электронной микроскопииявляется исследования микротопографии поверхности и внутренней структуры конструкционных материалов.3.4 Физическая и органическая химияВ области физической химии приложения электронной микроскопии многочисленны и разнообразны.Применение электронных микроскопов к изучению коллоидных растворов дает возможность установить правильную картину строения коллоидов. В электронном микроскопе непосредственно видны частицы высокодисперсных золей золота, серебра и других веществ. При исследовании золей каучука наблюдались длинные нити с расположенными на них узелками. Длинные молекулы многих высокомолекулярных органических веществ образуют сильно разветвленные сетки со спутанными петлями. Это подтверждает предположение о нитеобразном строении молекул многих высокомолекулярных соединений. При помощи электронных микроскопов удалось увидеть молекулы белковых веществ, например гемоцианина, которые оказались шарообразной формы и т.д.ЗаключениеБлагодаря своей высокой разрешающей способности, электронные микроскопы нашли очень широкое применение в медицине, микробиологии, вирусологии и фармакологии. Они позволили получать треххмерные изображения микроскопических структур, изучать воздействие токсинов на организмы, контролировать качество лекарственных препаратов. Электронные микроскопы также незаменимы в промышленной сфере. Их применяют для получения 2-хмерных и 3-хмерных микрохарактеристик образцов, в микротехнологиях: литографии, травлении, легировании, полировке и др.В то же время следует отметить, что методы электронной микроскопии достаточно сложны и трудоемки, и чтобы овладеть искусством электронной микроскопии, требуется значительное время и средства на покупку дорогостоящего оборудования, поэтому в мире не так много групп, занимающихся электронной микроскопией на высоком уровне.Использованная литератураГоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., Лифшин Э. Растроваяэлектронная микроскопия и рентгеновский анализ. Перевод с английского языка.Москва, "Мир", 1984.Основы аналитической электронной микроскопии / Под ред. Грена Дж.Дж.,Гольдштейна Дж.И., Джоя Д.К., Ромига А.Д. Перевод с английского языка. Москва,"Металлургия", 1990.Груздев А.Д. Применение стереологических методов в цитологии. Новосибирск, "Наука", 1974.Томас Г., Горинж М. Дж. Просвечивающая электронная микроскопия материалов: Пер. с англ./Под ред. Б.К. Вайнштейна – М: Наука. Главная редакция физико-математической литературы, 1983 – 320с.

Список литературы [ всего 4]

1. Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., Лифшин Э. Растроваяэлектронная микроскопия и рентгеновский анализ. Перевод с английского языка.Москва, "Мир", 1984.
2. Основы аналитической электронной микроскопии / Под ред. Грена Дж.Дж.,Гольдштейна Дж.И., Джоя Д.К., Ромига А.Д. Перевод с английского языка. Москва,"Металлургия", 1990.
3. Груздев А.Д. Применение стереологических методов в цитологии. Новосибирск, "Наука", 1974.
4. Томас Г., Горинж М. Дж. Просвечивающая электронная микроскопия материалов: Пер. с англ./Под ред. Б.К. Вайнштейна – М: Наука. Главная редакция физико-математической литературы, 1983 – 320с.
Очень похожие работы
Пожалуйста, внимательно изучайте содержание и фрагменты работы. Деньги за приобретённые готовые работы по причине несоответствия данной работы вашим требованиям или её уникальности не возвращаются.
* Категория работы носит оценочный характер в соответствии с качественными и количественными параметрами предоставляемого материала. Данный материал ни целиком, ни любая из его частей не является готовым научным трудом, выпускной квалификационной работой, научным докладом или иной работой, предусмотренной государственной системой научной аттестации или необходимой для прохождения промежуточной или итоговой аттестации. Данный материал представляет собой субъективный результат обработки, структурирования и форматирования собранной его автором информации и предназначен, прежде всего, для использования в качестве источника для самостоятельной подготовки работы указанной тематики.
bmt: 0.00462
© Рефератбанк, 2002 - 2024