Вход

развитие технологий кремниевой микро- и наноэлектроники

Рекомендуемая категория для самостоятельной подготовки:
Реферат*
Код 187577
Дата создания 2015
Страниц 21
Источников 3
Мы сможем обработать ваш заказ (!) 27 апреля в 12:00 [мск]
Файлы будут доступны для скачивания только после обработки заказа.
1 420руб.
КУПИТЬ

Содержание

Введение 2
1.Особенности технологий кремниевой микро и наноэлектроники 3
2. Развитие технологий кремниевой микро и наноэлектроники 6
Заключение 19
Список литературы 20

Фрагмент работы для ознакомления

Переход к неупорядоченным структурам дает несомненный экономический эффект. Платой за это является необходимость решения проблемы стабильности материала. За последние годы разработаны новые методы получения пленок с достаточно воспроизводимыми свойствами. Один из новых высокопроизводительных методов заключается в использовании сверхзвуковой газовой струи с активацией газов электронным пучком (ИТ СО РАН). Метод позволяет во много раз увеличить скорость осаждения слоев кремния. Структуры пористого кремния привлекли внимание исследователей перспективами применений в качестве излучателей видимого диапазона. Однако многочисленные проблемы (стабильность, воспроизводимость) сдерживают продвижение разработок излучателей. Более успешными оказались работы по контролируемому формированию периодического массива пор в процессе глубокого фотоанодного травления кремния. Найдены пути управления формой пор (ИПТМ РАН). Такие структуры использовались при создании образцов матрицы параболических короткофокусных рентгеновских линз и элементов трехмерных фотонных кристаллов на основе кремния. Другое направление исследований на пористом кремнии связано с созданием универсальных подложек для гомо- и гетероэпитаксии (податливые подложки, ИФП СО РАН) и последующей разработкой метода создания структур полупроводник на диэлектрике. (Секция "Материаловедение, физико-химические основы технологий получения микрокристаллического, аморфного и пористого кремния"). Структуры кремния (монокристаллического) на диэлектрике привлекают пристальное внимание разработчиков приборов и интегральных схем. Это связано с такими преимуществами, как возможность существенного снижения паразитных емкостей, обеспечение надежной диэлектрической изоляции, возможность снижения рабочих напряжений и мощностей. В настоящее время для создания высококачественных структур кремния на диэлектрике используются три метода. Это создание диэлектрической пленки под слоем кремния путем ионной имплантации в монокристаллические пластины ионов кислорода (SIMOX-процесс); прямое термокомпрессионное соединение окисленных пластин кремния с последующим "утонением" одной из них путем полировки с обратной стороны (BESOI-процесс); прямое термокомпрессионное соединение пластины кремния с окисленной пластиной, в которую предварительно проводится имплантация водорода на глубину, контролируемую энергией ионов. В процессе нагрева происходит не только термокомпрессионное соединение, но и скол по плоскости залегания водорода (Smart-Cut-процесс). Последняя технология обеспечивает возможность получения ультратонких (нанометровых) слоев кремния. Исследования механизма отделения тонких слоев после имплантации водорода и разработка низкодозового варианта осуществления этого процесса открывают серьезные перспективы этому направлению, успешно развиваемому в ИФП СО РАН (Dele/Cut - процесс). Проблемы этого направления обсуждались на секции "Материаловедение приборных структур, созданных на основе кремния". Отмечена удачная демонстрация применения структур кремния на изоляторе для создания тензорезистивных сенсоров. В совместном докладе сотрудников ИФП СО РАН и НГТУ показана возможность заметного расширения температурного диапазона работы прибора за счет диэлектрической изоляции. На этой же секции обсуждались приборы силовой электроники. В промышленно развитых странах широкое применение тиристоров и устройств управления потребителями электроэнергии на этой базе привело к "зеленой революции", позволяя почти в два раза повысить эффективность электрических аппаратов и устройств, создать образцы принципиально новой техники с цифровым электроприводом. Увеличение плотности элементов в схемах приводит к возрастанию протяженности и усложнению архитектуры традиционных проволочных межсоединений, что превращается в одно из препятствий на пути дальнейшего повышения быстродействия схем и их стоимости. Заманчивой альтернативой традиционным межсоединениям являются оптоэлектронные системы, обеспечивающие возможность генерации, модуляции, усиления, передачи, а также детектирования световых сигналов. Проблема кремниевой оптоэлектроники заключается в создании эффективного источника излучения. Кремний - непрямозонный материал, и эффективность межзонной излучательной рекомбинации в нем очень низка. Надежды на решение проблемы возлагаются на использование эрбия - примесь, которая формирует в кремнии эффективные центры излучательной рекомбинации с участием 4f- электронов (внутри центровые переходы). Генерируемое излучение с длиной волны 1,54 мкм практически не поглощается кремнием и соответствует окну максимальной прозрачности оптических волноводов из кварцевого стекла. Определенным препятствием в реализации такого пути является низкая растворимость эрбия в кремнии. Для увеличения содержания эрбия в решетке кремния используются неравновесные методы получения сильнолегированных слоев: ионная имплантация, молекулярно-лучевая эпитаксия, ионно-лучевое напыление (ФТИ им. А.Ф.Иоффе, ИФМ РАН). Помимо эрбия, проводятся эксперименты с гольмием (1,96 мкм). Две секции были посвящены вопросам диагностики кремния, методам и аппаратуре для исследований физических свойств и структурных особенностей кремния, а также оборудованию для выращивания монокристаллов кремния и слоев на его основе. Конференцию сопровождала выставка научно-технических разработок, и это было одним из отличий от предыдущей конференции, проходившей также в МИСиС в 1996г. Знаменательным событием стала демонстрация на выставке слитков кремния тремя организациями: Институт физики полупроводников СО РАН (бестигельная зонная плавка), АО "Подольский химико-металлургический завод" (Чохральского), ГИРЕДМЕТ (Чохральского). В Красноярске (Горно-химический комбинат) создана пилотная линия производства монокристаллического кремния диаметром слитков 200 мм. Эти события могут свидетельствовать о начале возрождения кремниевого производства в России. На выставке демонстрировались также отечественные кварцевые тигли, необходимые для роста кристаллов из расплава. Тигли эти разового использования, и от их чистоты зависит качество получаемых кристаллов. Широко используемые импортные тигли стоят около 500 долларов США и удорожают 1 кГ готовой продукции на 10 долларов. Среди сибиряков самая большая делегация была из Новосибирска. На заключительном пленарном заседании отмечался высокий уровень результатов, полученных в Новосибирске. Участие в работе конференции сибиряков составило основу большинства секций по количеству представленных устных докладов. Отмечались доклады, представленные докторами физико-математических наук А.Асеевым, А.Двуреченским, О.Пчеляковым (ИФП СО РАН), Р.Шарафутдиновым (ИТ СО РАН), кандидатами физико-математических наук В.Бердниковым (ИТ СО РАН), В.Поповым, Л.Фединой (ИФП СО РАН), В.Старковым (ИТПМ РАН), а также работа, проводимая под руководством кандидата химических наук А.Камарзина (ИНХ СО РАН). Активное участие в работе конференции принимал руководитель школы по радиационной физике профессор Л.Смирнов (ИФП СО РАН). Огромная работа по организации и проведению конференции была выполнена профессором М.Дашевским (МИСиС), что с благодарностью отмечали все участники. Учитывая большой вклад сибирских ученых и промышленников в решение проблем, связанных с кремнием, представитель Министерства науки РФ горячо поддержал предложение директора ИФП СО РАН А.Асеева о проведении каждой второй конференции по физико-химическим аспектам получения кремния в Сибирском регионе: Новосибирске, Красноярске, Иркутске. Следующая конференция планируется через два года в Новосибирске. ЗаключениеНа базе ВСМОП весьма эффективны оптоэлектронные совмещенные МОП-транзисторы (ОСМОП), использующие один и тот же канал для переноса носителей разных знаков, генерируемых оптическим излучением. Это крайне важно для систем с оптическим питанием и в устройствах с оптоэлектронной обработкой информации. Оптическое питание предоставляет дополнительную степень свободы в построении интеллектуальных вычислительных систем, где естественные световые источники позволяют устранить зависимость от дополнительной аппаратуры, что существенно, например, в условиях космоса.В рамках гибких мини-производств реально изготовить на 100-долларовой необработанной пластине либо на “обработанной” 1000-долларовой пластине до 300 систем на кристалле, каждая из которых стоит от 100 до 1000 долл. Минимальная прибыль при этом – (200-1)x(100...1000) долл. С учетом того, что производительность мини-фаба – до тысячи пластин в месяц, месячная прибыль составит десятки миллионов, а годовая – несколько сотен миллионов долларов. Техноэкономический прорыв в изготовлении перспективных ВСМОП (ОСМОП) УБИС и СП на гибких оперативных мини- и спейсфабах ближайшей и отдалённой преспективы может затмить самые оптимистические прогнозы в микро- и наноэлектронике.Список литературыБубенников А.Н., Бубенников А.А. Техноэкономика в производстве наукоёмких продуктов микроэлектроники. – Электроника: НТБ, 1997, № 6.Бубенников А.Н., Бубенников А.А. Микроэлектроника мобильной эры и финансовые кризисы. – Электроника, 1998, № 3–4.Ракитин В.В., Филиппов Е.И. Субмикронные элементы на совмещённых МОП-транзисторах. – Микроэлектроника, 1997, т. 26, № 4.

Список литературы [ всего 3]

1. Бубенников А.Н., Бубенников А.А. Техноэкономика в производстве наукоёмких продуктов микроэлектроники. – Электроника: НТБ, 1997, № 6.
2. Бубенников А.Н., Бубенников А.А. Микроэлектроника мобильной эры и финансовые кризисы. – Электроника, 1998, № 3–4.
3. Ракитин В.В., Филиппов Е.И. Субмикронные элементы на совмещённых МОП-транзисторах. – Микроэлектроника, 1997, т. 26, № 4.
Очень похожие работы
Пожалуйста, внимательно изучайте содержание и фрагменты работы. Деньги за приобретённые готовые работы по причине несоответствия данной работы вашим требованиям или её уникальности не возвращаются.
* Категория работы носит оценочный характер в соответствии с качественными и количественными параметрами предоставляемого материала. Данный материал ни целиком, ни любая из его частей не является готовым научным трудом, выпускной квалификационной работой, научным докладом или иной работой, предусмотренной государственной системой научной аттестации или необходимой для прохождения промежуточной или итоговой аттестации. Данный материал представляет собой субъективный результат обработки, структурирования и форматирования собранной его автором информации и предназначен, прежде всего, для использования в качестве источника для самостоятельной подготовки работы указанной тематики.
bmt: 0.00486
© Рефератбанк, 2002 - 2024